Low Level MIP

“Low Level Membrane Interface Probe”

Low Level MIP is een technologie die door Geoprobe Systems^® werd ontwikkeld en die de gevoeligheid van het MIP-systeem aanzienlijk verhoogt. Het belangrijkste van de LL MIP technologie is dat het dragergas dat achter het MIP-membraan doorstroomt, pulseert, waardoor de VOS-concentratie die naar de detectoren wordt afgevoerd, hoger is, waardoor de detectiedrempels dus lager zijn.

LL MIP kan worden gebruikt met conventionele MIP-sondes, MiHpt-sondes of MIP-CPT-sondes. Om deze grotere gevoeligheid te verkrijgen, moet de operator de besturing MP9000 (Fig. 1) installeren en een up-to-date versie van de data-acquisitiesoftware voor FI6003 gebruiken.

Deze MP9000 unit kan makkelijk worden toegevoegd, zonder dat daarvoor de aansluitingen van de gasleidingen moeten worden aangepast. Deze unit kan eveneens makkelijk worden afgekoppeld om voort te gaan met conventionele MIP-metingen. Enkele minuten volstaan om van de ene methode op de andere om te schakelen.

Fig. 1 : Besturing MP9000

Gebruik :

Wanneer de conventionele MIP wordt gebruikt, stroomt het dragergas langs de achterzijde van het membraan en worden de VOS permanent naar de detectoren afgevoerd. In het geval van LL MIP wordt het dragergas even onderbroken wanneer de sonde in de ondergrond tot stilstand komt. Door het debiet te onderbreken, kunnen de contaminanten zich achter het membraan opstapelen en dus de concentratie verhogen. Dit levert een hogere en preciezere respons op voor de contaminant bij een gegeven concentratie (Fig. 2 en 3). Een kleppensysteem in de MP9000 zorgt ervoor dat de het debiet afkomstig van de trunkline en het debiet dat naar de detectoren gaat van elkaar zijn gescheiden: het debiet van de trunkline kan worden onderbroken zonder evenwel de stabiliteit van de basislijn van de detectoren te verstoren.

Fig. 2 : Vergelijking van de respons voor een standaard TCE van 0,5 ppm met de conventionele MIP-methode (rond 100 s) en met de LL MIP methode (rond 300 s).

Fig. 3 : Vergelijking van de MIP-methode en de LL MIP-methode voor TCE- concentraties 0,0, 0,2, 1,0 en 5,0 ppm.

Om LL MIP te kunnen gebruiken, moet een specifieke versie van de Direct Image data-acquisitiesoftware worden gebruikt die de cyclustijd van de MP9000 regelt. Deze software omvat eveneens een subroutine voor het automatisch opstarten van de LL MIP cyclus op verschillende diepten die tijdens MIP-metingen zijn bepaald.

De LL MIP vervangt de conventionele MIP niet, maar zorgt ervoor dat deze breder inzetbaar is. De LL MIP is het nuttigst wanneer het lage VOS-concentraties betreft. Fig. 4 vergelijkt een MIP-profiel met een aangrenzend LL MIP profiel waar lage concentraties chloorhoudende VOS werden aangetroffen. Terwijl de aanwezigheid van VOS-verontreiniging op het MIP-profiel moeilijk of zelfs onmogelijk te zien is, laat het LL MIP-profiel wel duidelijke signalen zien die geen twijfel laten bestaan over de aanwezigheid van contaminanten en over de locatie daarvan. Projecten met te lage concentraties voor conventionele MIP zijn goede kandidaten voor de LL MIP-methode. Deze technologie stelt consultants in staat om de pluim van de verontreiniging met concentraties tot op een 0,1 ppm precies (en voor sommige VOS zelfs lager) in kaart te brengen. De LL MIP-methode verhoogt de gevoeligheid van het MIP-systeem aanzienlijk, maar de detectielimieten hangen wel in de eerste plaats af van de gevoeligheid van de detectoren. Om zo laag mogelijke detectielimieten te hebben, moeten de sonde en de trunkline nieuw zijn of met behulp van blanco proeven worden gecontroleerd. De detectoren moeten ook correct zijn onderhouden en hun gevoeligheid moet telkens voor zij voor een project worden ingezet, worden getest. Materieel dat eerder al werd gebruikt voor studies van sites met hoge concentraties kan foute positieve resultaten opleveren als gevolg van de desorptie van contaminanten van het membraan en van de retourleiding van het dragergas.

Fig. 4 : XSD-respons die de conventionele MIP-methode (links) vergelijkt met de LL MIP-methode (rechts).

Het MIP-XSD profiel in Fig. 4 levert een ander beeld op van de LL MIP-technologie. Links ziet u een standaard MIP-profiel voor een site die is verontreinigd met chloorhoudende VOS. Zoals uit de vergelijking blijkt, zit de klassieke MIP-methode aan zijn limiet voor wat de verhouding signaal/basislijn betreft, terwijl de LL MIP-methode, waarvan het profiel dat op 1m van het andere werd geregistreerd, duidelijk de aanwezigheid en locatie van de verontreiniging toont (rechts). De schaal is identiek.